Mesure de résistivité
• Mesure simple et rapide
• Haute précision
• Compatible couches minces et substrats
• Versions manuelles ou automatiques
• Faible coût
Applications:
Contrôle dopage, R&D semi-conducteurs, matériaux conducteurs.
Description Solution:
La sonde à 4 pointes permet de mesurer avec précision la résistivité électrique des couches minces et substrats. Elle est utilisée pour évaluer le dopage et la conductivité des matériaux semi-conducteurs. Outil simple mais essentiel, il reste largement utilisé en R&D et en contrôle industriel. Disponible en versions manuelles et automatiques pour wafers complets.
Spécifications:
Plage: 10⁻⁴–10⁶ Ω/sq
Wafers: 50–300 mm
Modes: station manuelle ou mapping automatique.