Microscopie à force atomique (AFM)
• Résolution atomique verticale
• Mesure topographique et mécanique
• Compatible avec divers substrats
• Analyse locale haute précision
• Complémentaire au SEM
Applications:
Nanostructures, couches minces, MEMS, matériaux 2D.
Description Solution:
L’AFM offre une cartographie 3D nanométrique de la topographie de surface. Il mesure les rugosités et propriétés mécaniques ou électriques locales. C’est un outil indispensable pour la caractérisation des couches minces et nanostructures. Il complète les techniques d’imagerie électronique en apportant une vision locale et quantitative.
Spécifications:
Résolution verticale: <0,1 nm
Plage balayage: 0,1–100 µm
Modes: contact, tapping, conductif.